直流微電阻測(cè)量的誤差來源
更新時(shí)間:2016-03-29
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基于微弱直流信號(hào)的噪聲理論,外部干擾噪聲存在于環(huán)境中,并不受檢測(cè)電路控制,因此,在直流微電阻測(cè)量中,主要研究如何降低內(nèi)部固有噪聲源對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
在微電阻測(cè)量中,有以下幾種內(nèi)部固有噪聲誤差來源,導(dǎo)體內(nèi)部的熱噪聲會(huì)帶來溫差電勢(shì)誤差,導(dǎo)體間接觸噪聲會(huì)帶來接觸電勢(shì)誤差,接觸電勢(shì)和溫差電勢(shì)的共同作用產(chǎn)生熱電勢(shì);導(dǎo)體和環(huán)境之間因?yàn)殡娮訕O化也會(huì)產(chǎn)生電化學(xué)電動(dòng)勢(shì)誤差;而且測(cè)量電路本身也存在失調(diào)和溫差誤差。
熱電勢(shì)是微弱直流電壓測(cè)量中zui常見的誤差源,熱電勢(shì)包括接觸電勢(shì)和溫差電勢(shì)。
接觸電勢(shì)是由兩種不同的導(dǎo)體內(nèi)部因電子密度不同而在接觸面上擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)造成的,并且隨著溫度變化而變化。電子測(cè)量系統(tǒng)中,存在著多種導(dǎo)體,如銅、金、銀、錫、鍺、碳、鉛、氧化銅等導(dǎo)體,則測(cè)量系統(tǒng)中勢(shì)必會(huì)存在接觸電勢(shì)。測(cè)量系統(tǒng)放大電路內(nèi)部的接觸電勢(shì)的影響可采用多種技術(shù)加以消除,但是信號(hào)輸入回路的接觸電勢(shì)的影響消除的難度較大,因此應(yīng)盡可能的采用同質(zhì)材料進(jìn)行連接。
同一種導(dǎo)體當(dāng)其兩端溫度不同時(shí),高溫端電子向低溫端遷移運(yùn)動(dòng)從而造成溫差電勢(shì),這一現(xiàn)象又稱為湯姆遜效應(yīng)。顯然,電子測(cè)量系統(tǒng)存在溫度場(chǎng)的分步不均現(xiàn)象:元器件內(nèi)外溫度不同,同一元器件不同的區(qū)域溫度不同,所以必然存在溫差電勢(shì)。雖然電子測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)部的溫差電勢(shì)的影響可以消除,但信號(hào)輸入回路的接觸電勢(shì)的影響有時(shí)很難消除,這時(shí),盡可能的保持測(cè)量系統(tǒng)溫度場(chǎng)分布均勻。
如前所述,熱電勢(shì)是由不同材料的導(dǎo)體接觸以及導(dǎo)體結(jié)點(diǎn)溫度的差異造成的。
由上可見,雖然銅一銅接觸所產(chǎn)生的熱電動(dòng)勢(shì)很小,但如果銅質(zhì)材料連接不良,并且存在氧化時(shí),熱電勢(shì)對(duì)微弱直流信號(hào)測(cè)量的影響是相當(dāng)大的 。