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產(chǎn)品展示/ Product display
SXJS-IV SXJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測試儀具有多種測量方式,可選擇正/反接線、內(nèi)/外標準電容器、CVT和內(nèi)/外試驗電壓進行測量。正接線可測量高壓介損。
聯(lián)系電話:13774416198
SXJS-IV SXJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測試儀
測量內(nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍(Cx) | 試品類型 | 基本誤差 |
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ | 0~1 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0005) |
接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | |||
10pF~50pF或60000pF以上 | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | ||
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.0020) | |||
3pF~10pF | 非接地與接地 | |||
電容量 | 50pF以上 | ±(1%讀數(shù)+1pF) | ||
50pF以下 | ±(1%讀數(shù)+2pF) |